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通常测量电源噪声，使用有源或者无源探头，探测某芯片的电源引脚和地引脚，然后示波器设置为长余辉模式，*用两个水平游标来测量电源噪声的峰峰值。这种方法有一个问题是，常规的无源探头或有源探头，其衰减因子为10，和示波器连接后，垂直刻度的*小档位为20mV，在不使用DSP滤波算法时，探头的本底噪声峰峰值约为30mV。以DDR2的1.8V供电电压为例，如果按5％来算，其允许的电源噪声为90mV，探头的噪声已经接近待测试信号的1/3，以，用10倍衰减的探头是无法准确测试1.8V/1.5V等小电压。在实际测试1.8V噪声时，垂直刻度通常为5-10mV/div之间。
测量不确定度和误差是计量学中研究的基本命题，也是计量测试人员经常运用的重要概念之一。它直接关系着测量结果的可靠程度和量值传递的准确一致。然而很多人由于概念不清，很容易将二者混淆或误用，中测计量公司结合相关资料，着重谈谈二者之间的不同之处。
要明确的是测量不确定度与误差二者之间概念上的差异。
计量检测校准目的：
1.确定指示误差及其是否在预期公差范围内；
2.获取标称值偏差的报告值，并用测量仪器校正指示值；
3.给标尺标记赋值或确定其他属性，或给标准物质的属性赋值。
4.实现可追溯性。
校准的基本要求如下：
1.如果在实验室进行环境条件校准，环境条件应符合验证规程/校准规范中的温度、湿度等要求。如果在现场进行校准，环境条件应以能够满足仪器现场使用的条件为准。
2.作为校准的标准仪器，仪器的误差极限应为被校准仪表误差极限的1/3～1/10。
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